Реестр соответствияЕвразийский экономический союз ← Вернуться к поиску
Заявитель
Страна
Россия
Адрес
117105, Российская Федерация, г Москва, ВН.ТЕР.Г. МУНИЦИПАЛЬНЫЙ ОКРУГ НАГОРНЫЙ, Ш ВАРШАВСКОЕ, Д. 26, СТР. 10
Контакты
Телефон: +79933912542 · Эл. почта: cm-sq@gmail.com
ИНН
9701312685
ОГРН
1257700239653
Изготовитель
Наименование
Aputure Imaging Industries Co., Ltd.
Страна
CN
Адрес
КИТАЙ, Plants 1, 2, and 3, Huadeng Science and Technology Park, Yuanzhou Town, Boluo County, Huizhou City, Guangdong P.R. China, 23.110000, 114.020000
Контакты
Не указано
ИНН
Не указано
ОГРН
Не указано
Продукция
Тип выпуска
серийный выпуск
Описание и условия
Aputure, STORM CS32
Коды ТН ВЭД
Торговое наименование
Не указано
Идентификаторы продукции
Не указано
Основные сведения
Номер документа
ЕАЭС N RU Д-CN.РА06.В.55913/26
Номер бланка
Не указано
Вид документа
декларация о соответствии ТР ЕАЭС
Схема сертификации
Дата регистрации
29.07.2026
Период действия
29.07.2026 — 28.07.2031
Дата обновления источника
29.07.2026
Публичный UUID
01a057cb-d706-7c6e-a6c7-e5c9c694ac5c
Технические регламенты
Орган по сертификации
Номер в реестре
0
Страна
Россия
Адрес
Не указано
Контакты
Не указано
Дата аккредитации
Не указано
Лаборатории и протоколы

"Shenzhen NTEK Testing Technology Co., Ltd."

Номер аккредитации
Не указано
Протокол
N26050603804E
Дата протокола
17.07.2026
Вид документа
Протокол исследований и испытаний (измерений)
Стандарты и доказательные документы
Не указано Определение регламентированных веществ в электротехнических изделиях. Часть 3-1. Скрининг. Анализ свинца, ртути, кадмия, общего хрома и общего брома методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии Не указано
Не указано Определение регламентированных веществ в электротехнических изделиях. Часть 5. Определение кадмия, свинца и хрома в полимерах и электронных частях систем, а также кадмия и свинца в металлах методами AAS, AFS, ICP-OES и ICP-MS Не указано
Не указано Определение регламентированных веществ в электротехнических изделиях. Часть 4. Определение ртути в полимерах, металлах и электронике методами CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES и ICP-MS Не указано
Приложения

Приложения не указаны.