Реестр соответствияЕвразийский экономический союз ← Вернуться к поиску
Заявитель
Страна
Россия
Адрес
117465 Россия город Москва ул. Генерала Тюленева д.29 к.1
Контакты
Телефон: +74994080543 · Эл. почта: info@afkbasis.ru
ИНН
7728799014
ОГРН
1127746115419
Изготовитель
Наименование
Xiamen Sophgo Technologies Ltd.
Страна
CN
Адрес
Китай 702-01 Xinghui Building No. 9 Zengcuo'an North Road Software Park Torch High-tech Zone Xiamen China 24.438105° 118.123276°
Контакты
Не указано
ИНН
Не указано
ОГРН
Не указано
Продукция
Тип выпуска
серийный выпуск
Описание и условия
Декларация соответствия распространяется на продукцию, изготовленную с даты изготовления отобранных образцов (проб) продукции, прошедших исследования (испытания) и измерения, указанную в акте(ах) отбора
Коды ТН ВЭД
Торговое наименование
Не указано
Идентификаторы продукции
Не указано
Основные сведения
Номер документа
ЕАЭС N RU Д-CN.РА04.В.46477/24
Номер бланка
Не указано
Вид документа
декларация о соответствии ТР ЕАЭС
Схема сертификации
1д
Дата регистрации
21.05.2024
Период действия
21.05.2024 — 20.05.2029
Дата обновления источника
21.05.2024
Публичный UUID
019faa79-2d2e-79d5-a567-983a6cbc48a9
Технические регламенты
Орган по сертификации
Номер в реестре
0
Страна
Россия
Адрес
Не указано
Контакты
Не указано
Дата аккредитации
Не указано
Лаборатории и протоколы

Испытательная Лаборатория СИСТЕМА КАЧЕСТВА Общества с ограниченной ответственностью СИСТЕМА КАЧЕСТВА (ООО СИСТЕМА КАЧЕСТВА) , аттестат аккредитации РОСС RU.З2671.04АЛЯ0ИЛ008

Номер аккредитации
Не указано
Протокол
СК-24/05-0724
Дата протокола
21.05.2024
Вид документа
Протокол исследований и испытаний (измерений)
Стандарты и доказательные документы
Не указано Изделия электротехнические. Определение уровня шести регламентированных веществ (свинца, ртути, кадмия, шестивалентного хрома, полибромбифенилов, полибромированных дифениловых эфиров) Не указано
Не указано Определение регламентированных веществ в электротехнических изделиях. Часть 3-1. Скрининг. Анализ свинца, ртути, кадмия, общего хрома и общего брома методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии Не указано
Приложения

Приложения не указаны.